半导体抗静电试验仪

半导体抗静电试验仪

半导体抗静电试验仪专为半导体器件及IC的抗静电测试而设计，满足国家军用标准GJB548A-96方法3015、国家军用标准GJB128A-97方法1020、MIL-STD-883D、EIAJED-4701的测试要求。电脑控制，全部参数数字设定。输出电压精度高，性能稳定，测试结果精确。采用探针夹，使用灵活方便。

 ●全新设计
　　　模块化设计，可靠性高，稳定性好。
　　●结构紧凑
　　　结构小巧(长250mm、宽210mm、高130mm)，美观，轻便（主机约4kg）。
　　●操作简便
　　全数字设置，操作简易，淘汰了繁琐易损坏的数显模拟调节和码盘调节方式
　　●高性价比
　　　主要器件全进口，寿命长、可靠性高、故障率低，长时间稳定工作。
　　　普及型价格，性价比极佳。
　　　内置常用电压测试等级，更加方便用户使用。